6月1日上午，岛津表面分析专题交流活动于四川大学分析测试中心顺利举办。活动围绕X射线光电子能谱技术应用进展、谱图数据解析要点展开系统讲解，并针对XPS前沿革新技术与多元化科研应用进行深度分享。现场学术氛围浓厚，参会师生踊跃提问、交流氛围热烈 。本次交流活动由川大分析测试中心闫曙光老师主持。
依托此次技术交流，岛津进一步深化了与四川大学分析测试中心的合作纽带，衷心感谢川大分析测试中心长期以来对岛津XPS产品与技术推广工作的鼎立支持。
四川大学分析测试中心
四川大学分析测试中心始于1978年成立，是教育部直属高校15个分析测试中心之一。为西南地区规模最大、学科覆盖面最宽、分析检测手段最为齐全、大型精密仪器相对集中的权威检测机构，是四川大学多学科交叉、测试科研教学并举的高水平研究型分析测试中心。
在1981年，四川大学分析测试中心便引进一台来自Kratos品牌XPS设备，该仪器深耕校内样品表征与科研测试工作二十余载，历经27年不间断服役，圆满完成科研使命后正式退役。这台经典设备也见证了国内XPS表征技术从起步到蓬勃发展的历程。
Kratos的应用专家Dr. Jonathan分享内容的题目为《More than just elemental quantification – A look into what is possible with a modern spectrometer》。
内容涵盖如何利用Axis Supra+开展冷冻XPS的应用，通过案例展示低温稳定如何提高化学态的保真度、抑制辐射损伤，使研究含水、聚合物与能量相关的敏感表面成为可能。同时，也介绍Axis Supra+在有机半导体材料方向开展的应用案例，结合UPS技术精准获取有机半导体材料的形貌、成分和能级结构等关键信息。
岛津的XPS产品担当王文龙先生介绍了《X射线光电子能谱应用进展及数据分析》，围绕XPS的应用进展与数据分析展开。
首先介绍XPS技术当下的发展趋势，重点介绍温度辅助、光辅助、电辅助等主流原位表征手段，结合实际案例说明各类原位技术的测试形式与应用场景。随后结合日常实验经验，梳理常规测试要点，同时详细剖析样品测试、图谱采集、荷电校正、分峰拟合及结果解读等过程中业内普遍遇到的各类问题与常见误区。
交流环节结束后，Dr. Jonathan和XPS产品担当王文龙先生来到实验室进行现场指导，立足设备操作规程与专业数据分析实操痛点精准答疑，切实解决科研实操难题，助力师生用好Axis Supra开展实验，充分挖掘分析仪器在新材料研究中的应用价值。
